prikaz prve stranice dokumenta Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku
Access restricted to students and staff of home institution
undergraduate thesis
Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku
Rijeka: University of Rijeka, 2017. urn:nbn:hr:194:807123
Kisiček, Virna
University of Rijeka
Faculty of Physics

Cite this document

Kisiček, V. (2017). Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku (Undergraduate thesis). Rijeka: University of Rijeka. Retrieved from https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček, Virna. "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku." Undergraduate thesis, University of Rijeka, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček, Virna. "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku." Undergraduate thesis, University of Rijeka, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček, V. (2017). 'Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku', Undergraduate thesis, University of Rijeka, accessed 24 April 2024, https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček V. Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku [Undergraduate thesis]. Rijeka: University of Rijeka; 2017 [cited 2024 April 24] Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

V. Kisiček, "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku", Undergraduate thesis, University of Rijeka, Rijeka, 2017. Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Please login to the repository to save this object to your list.
Metadata
TitlePretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku
Title (english)Scanning electron microscope in analysis of thin films in cross-section
AuthorVirna Kisiček
MentorIvna Kavre Piltaver (mentor)
Committee memberRobert Peter (predsjednik povjerenstva)
Committee memberIvna Kavre Piltaver (član povjerenstva)
Committee memberVelimir Labinac (član povjerenstva)
GranterUniversity of Rijeka
(Faculty of Physics)
Rijeka
Defense date and country2017-09-15, Croatia
Scientific / art field,
discipline and subdiscipline		NATURAL SCIENCES
Physics
Abstract
Pretražni elektronski mikroskop tip je elektronskog mikroskopa kod kojeg se slika dobiva pravilnim pomicanjem snopa elektrona po površini uzorka. Razni detektori najčešće se koriste pri proučavanju topografije, kompozicije te kristalne strukture uzorka. U ovoj radnji opisala sam princip rada pretražnog elektronskog mikroskopa i njegove sastavne dijelove. Također, predstavila sam primjenu pretražnog elektronskog mikroskopa u analizi tankih filmova narastanih tehnikom depozicije atomskih slojeva. Navedeni primjeri prikazuju kako se može odrediti debljina tako pripremljenih uzoraka te kako je moguće odrediti njihov kemijski sastav.
Keywords
Languagecroatian
URN:NBNurn:nbn:hr:194:807123
Study programmeTitle: bacc. physics
Study programme type: university
Study level: undergraduate
Academic / professional title: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike)
Type of resourceText
File originBorn digital
Access conditionsAccess restricted to students and staff of home institution
Terms of useLicence In copyright icon
RepositoryRepository of the University of Rijeka, Faculty of Physics
Created on2017-10-26 11:41:10

(©) Nacionalna i sveučilišna knjižnica u Zagrebu 2015. Sva prava pridržana. | Hrvatske bratske zajednice 4 p.p. 550, 10000 Zagreb, Hrvatska Tel. ++ 385 1 616-4040
OIB: 84838770814 | IBAN: HR66 2340 0091 1000 1008 1, Porezni broj (PDV identifikacijski broj) - VAT Number: HR84838770814
Prijava u repozitorij