Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku

Kisiček, Virna

prikaz prve stranice dokumenta Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku

Pristup korisnicima matične ustanove

završni rad

Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku

Rijeka: Sveučilište u Rijeci, 2017. urn:nbn:hr:194:807123

Kisiček, Virna

Sveučilište u Rijeci
Fakultet za fiziku

Zatraži primjerak
dokumenta

Citirajte ovaj rad

APA 6th Edition

Kisiček, V. (2017). Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku (Završni rad). Rijeka: Sveučilište u Rijeci. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

MLA 8th Edition

Kisiček, Virna. "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Chicago 17th Edition

Kisiček, Virna. "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Harvard

Kisiček, V. (2017). 'Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku', Završni rad, Sveučilište u Rijeci, citirano: 19.04.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Vancouver

Kisiček V. Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku [Završni rad]. Rijeka: Sveučilište u Rijeci; 2017 [pristupljeno 19.04.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

IEEE

V. Kisiček, "Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku", Završni rad, Sveučilište u Rijeci, Rijeka, 2017. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:807123

Prijavite se u repozitorij kako biste mogli spremiti objekt u svoju listu.

Podaci o radu

Naslov	Pretražni elektronski mikroskop u analizi tankih filmova u presjeku
Naslov (engleski)	Scanning electron microscope in analysis of thin films in cross-section
Autor	Virna Kisiček
Mentor	Ivna Kavre Piltaver (mentor)
Član povjerenstva	Robert Peter (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstva	Ivna Kavre Piltaver (član povjerenstva)
Član povjerenstva	Velimir Labinac (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila akademski / stručni stupanj	Sveučilište u Rijeci (Fakultet za fiziku) Rijeka
Datum i država obrane	2017-09-15, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko područje, polje i grana	PRIRODNE ZNANOSTI Fizika
Sažetak	Pretražni elektronski mikroskop tip je elektronskog mikroskopa kod kojeg se slika dobiva pravilnim pomicanjem snopa elektrona po površini uzorka. Razni detektori najčešće se koriste pri proučavanju topografije, kompozicije te kristalne strukture uzorka. U ovoj radnji opisala sam princip rada pretražnog elektronskog mikroskopa i njegove sastavne dijelove. Također, predstavila sam primjenu pretražnog elektronskog mikroskopa u analizi tankih filmova narastanih tehnikom depozicije atomskih slojeva. Navedeni primjeri prikazuju kako se može odrediti debljina tako pripremljenih uzoraka te kako je moguće odrediti njihov kemijski sastav.
Ključne riječi
Jezik	hrvatski
URN:NBN	urn:nbn:hr:194:807123
Studijski program	Naziv: Fizika Vrsta studija: sveučilišni Stupanj studija: preddiplomski Akademski / stručni naziv: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (univ. bacc. phys.)
Vrsta resursa	Tekst
Način izrade datoteke	Izvorno digitalna
Prava pristupa	Pristup korisnicima matične ustanove
Uvjeti korištenja
Repozitorij	Repozitorij Fakulteta za fiziku Sveučilišta u Rijeci
Datum i vrijeme pohrane	2017-10-26 11:41:10

Nacionalna i sveučilišna knjižnica u Zagrebu

Dabar