završni rad
Opis oblika spektralnih linija u XRF i PIXE eksperimentalnim tehnikama

Patrick Seleš (2018)
Sveučilište u Rijeci
Odjel za fiziku
Citirajte ovaj rad...

Seleš, P. (2018). Opis oblika spektralnih linija u XRF i PIXE eksperimentalnim tehnikama (Završni rad). Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:657484

Seleš, Patrick. "Opis oblika spektralnih linija u XRF i PIXE eksperimentalnim tehnikama." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2018. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:657484

Seleš, Patrick. "Opis oblika spektralnih linija u XRF i PIXE eksperimentalnim tehnikama." Završni rad, Sveučilište u Rijeci, 2018. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:657484

Seleš, P. (2018). 'Opis oblika spektralnih linija u XRF i PIXE eksperimentalnim tehnikama', Završni rad, Sveučilište u Rijeci, citirano: 22.07.2019., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:657484

Seleš P. Opis oblika spektralnih linija u XRF i PIXE eksperimentalnim tehnikama [Završni rad]. Rijeka: Sveučilište u Rijeci; 2018 [pristupljeno 22.07.2019.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:657484

P. Seleš, "Opis oblika spektralnih linija u XRF i PIXE eksperimentalnim tehnikama", Završni rad, Sveučilište u Rijeci, Rijeka, 2018. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:657484